廣州金程科學儀器公司供應的安東帕Anton Paar激光納米粒度分析儀Litesizer DLS 系列粒度分析儀采用光散射技術結合巧妙簡易的軟件，可實現(xiàn)粒度分布、顆粒濃度、zeta 電位、分子量以及透光率和折光率的測試。

Litesizer DLS 100 可測量多種樣品的粒度和透光率。它會讓您對顆粒體系有一個快速而準確的認識，展示這些顆粒體系如何隨時間、pH 值、溫度和濃度變化，從而為您提供優(yōu)化工具。

Litesizer DLS 500 可實現(xiàn)上述所有測量，同時還能測量 zeta 電位、分子量和折光率。采用 Ω 形毛細管結合 cmPALS 專li技術（歐洲專li 2 735 870）能確保進行快速、穩(wěn)定、可重復的 zeta 電位測量，即使樣品是渾濁的或者對電壓敏感的。

儀器特點：

Litesizer DLS 可為樣品選擇較理想的測量角度，以確保數(shù)據(jù)質量

Litesizer DLS 500 有三個用于 DLS 測量的檢測角度（側散射、向后散射或向前散射），允許參數(shù)設置。儀器帶有自動角度選擇功能，可以為您的樣品確定合適的角度。

Litesizer DLS 100 使用通用的后向散射角，這對于濁度樣品較理想，因為它減少了多個散射事件，實現(xiàn)高精度的數(shù)據(jù)。您可以對樣品進行完整的分析，因為 Litesizer 系列能夠在一次測量中溶解多達三種不同的粒度等級。

zeta 電位測量降至 0.1 mg/mL，實現(xiàn)高靈敏度

利用 Litesizer DLS 500，您可以通過電泳光散射法執(zhí)行 zeta 電位測量。cmPALS 專li技術（歐洲專li 2 735 870）允許在樣品濃度低的情況下進行高靈敏度測量，獲得有意義的結果，測量時間顯著縮短，樣品降解程度大程度降低。這對肽溶液特別有幫助。此外,安東帕 Ω 型毛細管 zeta 電位的比色皿在測量位置創(chuàng)建一個穩(wěn)定的電場,促使 zeta 電位測量具有高度可重復性。

用于樣品監(jiān)測的持續(xù)的透光率測量

持續(xù)測量的透射率可以給您提供樣品的即時反饋。它進一步允許自動優(yōu)化測量參數(shù)，如測量角度、焦點位置和持續(xù)時間。透光率也提供在一系列測量中有關沉積或聚集開始的數(shù)據(jù)。

一體機-測量折光率

樣品溶劑的折光率是 DLS 和 ELS 測量所需的輸入?yún)?shù)。 對于大多數(shù)粒度分析儀來說，這些指數(shù)必須由外部來源確定，Litesizer 500 可以在 DLS 或 ELS 測量的精確波長和溫度下測量折光率（歐洲專li 3 023 770）。這確保了在所有試驗條件下，獲得高精確度的粒徑和 zeta 電位值。Litesizer 500 確定的折光率的誤差在 ±0.5% 之內(nèi)，符合 ISO 22412:2017 規(guī)定的 DLS 所需折光率精度。

使用 Kalliope 軟件可以清楚地了解您的測量結果

Litesizer 系列的測量軟件，Kalliope, 提供直觀的單頁工作流.輸入?yún)?shù)、測量信號和結果都觸手可及。單頁工作流還允許您只需單擊三次就可以開始測量。 預定義的標準報告和結構化的結果概覽對測量結果提供快速訪問路徑。 您還可以通過分析功能、Excel 導出和定制化報表模板來更深入地查看數(shù)據(jù)。Kalliope 符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法規(guī)要求。在這里了解 Kalliope 的更多特性

技術特點：

持續(xù)的透光率測量

持續(xù)測量樣品的透光率，讓Litesizer DLS 系列可自動優(yōu)化一些參數(shù)，比如聚焦位置、測量角度以及測量持續(xù)時間。

一個儀器 – 三個檢測角度

選擇背散射、側散射或前散射，或者讓 Litesizer DLS 500為樣品自動選擇最佳角度。

使用 DLS 實現(xiàn)分辨率

多角度粒度分析 (MAPS) 可提高雙峰和三峰顆粒混合物的分辨率。

折光率

使用 Litesizer DLS 700 和500在精確的測量波長和溫度下來測定溶劑的折光率。這可確保在各種試驗條件下，都能獲得最高精確度的粒度結果和 zeta 電位。

Omega 樣品池

可與 Litesizer DLS 700 和500 配套使用的 zeta 電位測量池是一個具有倒置的 ? 形毛細管的樣品池。這可以在測量通道內(nèi)促進形成均勻電場，從而保證結果的穩(wěn)定性和可重復性。

ELS專li技術：cmPALS

Litesizer 700 和 500 采用新型專li（歐洲專li 2 735 870） 技術 cmPALS，讓 ELS 光學器件達到新水準。可快速實現(xiàn)zeta 電位的準確測量。

光學試驗臺

光學試驗臺是Litesizer DLS 系列的強大核心。高靈敏度的測量光學器件即使是低光強信號也能精確檢測，堅固的外殼降低了振動帶來的影響，并確保測量不受灰塵或溫度波動影響。

技術參數(shù)：

安東帕Anton Paar激光納米粒度分析儀Litesizer DLS信息由廣州金程科學儀器有限公司為您提供。